日本NF LCR測試儀ZM系列

 日本NF LCR測試儀ZM系列概述

測量范圍覆蓋從1mHz低頻領域到5.5Hz高頻領域
實現了快速且偏差小的穩定測量，可對應從材料研究到零部 件生產線等的各種用途

日本NF LCR測試儀ZM系列偏差小的高再現性 測量示例

按照以下條件使用ZM2372和ZM2376，對1nF的電容反復測量200次后得到的結果。
使用ZM2376，測量的再現性得到了進一步提高。

技術參數

早在1959年， 高精度的負反饋控制技術尚未在日本國內普及， 我們就已經以此為基礎， 根據“凡是社會需要的， 就是我們要創造的新產品”的理念， 創建了NF公司。 此后， 我們繼承和發揚了這一先驅精神， 積極探索尚未被人們了解的新領域， 不斷創新并提供獨有產品， 為新一代的產品開發和社會發展做出我們的貢獻。 NF的*技術涉及到極其廣闊的領域， 包括汽車和數字家電等*電子技術、 燃料電池和太陽能發電等清潔能源技術、 納米技術、 以及人造衛星和火箭等宇航技術。今后， 我們仍將繼續鉆研*技術， 不斷地為未來的科技發展提供高新技術產品。